Le projet : Réaliser un banc de test mémoire permettant de mesurer différentes caractéristiques d'une mémoire (tension minmale d'alimentation, consommation, temps d'accès, etc...). Le système est implémenté sur une carte de développement FPGA : "STRATIX DSP DevKit ALTERA".
Afin de sérialiser les tests, on se doit d'automatiser l'alimentation de la mémoire et commander la tension par l'intermédiare du système embarqué sur le FPGA.
La solution retenue consiste à commander des convertisseurs numériques/analogiques. Dans un premier temps j'ai cherché à utiliser un composant externe à la carte de developpement FPGA (un DAC 08C) en connectant des sorties logique aux entrées de contrôle (B1 à B8).
La carte dispose déjà de convertisseurs numériques/analogiques mais ce montage pourrait être retenu dans le cas ou l'on souhaiterait réaliser une carte de développement et se passer des périphériques présent sur la carte de développement ALTERA
Le shéma utlisé est le suivant :
La solution retenue consiste à commander des convertisseurs numériques/analogiques. Dans un premier temps j'ai cherché à utiliser un composant externe à la carte de developpement FPGA (un DAC 08C) en connectant des sorties logique aux entrées de contrôle (B1 à B8).
La carte dispose déjà de convertisseurs numériques/analogiques mais ce montage pourrait être retenu dans le cas ou l'on souhaiterait réaliser une carte de développement et se passer des périphériques présent sur la carte de développement ALTERA
Le shéma utlisé est le suivant :
Ce montage permet d'obtenir une tension de référence, mais il ne permet pas de fournir une centaine de mA et d'alimenter directement la mémoire. On doit amplifier le courant de sortie et effectuer une adaptation d'impédance. Pour cela on peut utiliser un montage à base d'un AOP ou de transistors NPN.
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